Pagina Archivio per la Rete ElFoMat

Presentazione di ElFoMat

La Rete si occupa della sintesi di materiali organici e nanomateriali da utilizzare come semiconduttori in dispositivi optoelettronici e fotonici (Organic Light Emitting Diodes OLEDs - dispositivi fotovoltaici). Realizza anche materiali nanostrutturati per applicazioni nel settore ambientale e dell’Health Care.

Spettroscopia ottica ultrafast.

Caratterizzazione di processi di trasferimento di carica ed energia in materiali per la fotonica, la sensoristica e la fotocatalisi.

Caratterizzazione ottica di nanostrutture a film sottili

Descrizione sperimentale delle caratteristiche ottiche di campioni di film sottili ottici, mediante misure ellissometriche e con profilometro. Con il profilometro si è in grado di misurare con elevata precisione spessori di film sottili con una sensibilità fino ad 1 nm. Inoltre, può essere utilizzato anche per valutare la topografia e le rugosità delle superfici a livello nanometrico. Con l’ellissometro si possono valutare i parametri ottici di film sottili (permettività e spessore), mediante la misura della variazione dello stato di polarizzazione del segnale incidente dopo la riflessione sul campione. La misura può essere effettuata al variare dell’angolo di incidenza e della lunghezza d’onda (Ellissometria Spettroscopica).